サポート部門

SERVICE

迅速な国内対応

センチュリーマイクロでは、弊社は全部門が国内ワンストップでの対応をとっており、DRAMの取り付け・取り外し・リボール等、メモリーモジュールのリワーク作業に必要な一連の設備を社内に保有しています。これらの設備はお客様サポート専用に導入されているため、万一の場合も迅速な修理対応をお約束いたします。専門の技術を要するDRAMのリワーク・再生作業を外部に委託する必要がないため、DRAMメーカーへの解析依頼も非常にスムーズに行える等、当社のリワーク設備はDRAMの品質維持管理にも効果を発揮しております。 製品導入前、製品納入後のご相談はもちろん、万一問題があった際も迅速に日本人スタッフがサポートさせていただきます。

センチュリーマイクロ DRAMのリワーク

DRAMのリワーク

センチュリーマイクロはメモリーモジュールの専門メーカーです。自社設計のメモリーモジュールを開発責任者監修の下、長年に渡って積み重ねられたノウハウを以てリワークを行なっており、技術には絶対の自信があります。製品に過度な熱ストレスを加えない、極めて理想的な温度プロファイルによるリワークをお約束いたします。 左の写真はDRAMを取り外した瞬間を撮影したものです。半田が溶融したDRAMをノズルビットが確実に吸着し、真上に引き上げるため、安全に取り外す事が可能です。また、リワーク時の熱が周囲のデバイスに極力影響しない様、ヒートノズルもDRAMの外形に合わせた専用品を使用しております。

センチュリーマイクロ DRAMのリボール

DRAMのリボール

FBGAタイプのDRAMは、電極が球状の半田で形成されています。それらは基板に直接半田付されるため、リワークにより取り外されたDRAMは電極が分断していますので、そのままでは使用できません。よって、取り外されたDRAMを検査したり、基板に再実装するためには、電極を再度形成する必要があります。 右の写真は電極となる球状の半田をDRAMに搭載している所です。静電気が発生しにくい特殊な刷毛でメタルマスク上の半田をDRAMのフットプリントに合わせた開孔パターンに誘導します。

センチュリーマイクロ DRAMの単品解析

DRAMの単品解析

センチュリーマイクロでは、基板から取り外したDRAMを社内で再生できるため、時にはDRAM単体で電気検査を実施する事があります。 右の写真はDRAMを脱着可能なソケットに装着し、電気試験を実施している様子です。基板上でDRAMの搭載位置を移動させたり、様々なサンプルと組み合わせて評価したりと、検証方法は多様です。 これらのリワーク工程と電気試験が効率良く連携を行い問題を即座に切り分けられる体制は、お客様は元より各サプライヤー様からもご好評を頂いております。

センチュリーマイクロ 評価・検査代行

評価・検査代行

製品導入前のお客様が社内で行う検査や処理を、指定いただく方法で弊社が代行し、テストレポートを発行することができます。 貴社の機材や複数のマザーボードでメモリーを評価したいというお客様も、お問い合わせをお待ちしております。 また、製品納品後のお客様が社内で行う検査や処理も指定いただく方法で弊社での代行が可能です。高温検査、封孔処理、指定する機器での全数検査など、貴社での検査の負担を減らし、更なる不良率の軽減にも貢献します。

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